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SuperViewW白光干涉儀摩擦磨損形貌檢測儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。非接觸式掃描測量各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反...

CP系列中圖國產臺階膜厚儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。它是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的...

中圖儀器CP系列微觀表面測量臺階儀采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點，主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。

SuperViewW三維白光干涉輪廓儀讓輪廓測量價格更為實惠，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。它能夠以優...

中圖儀器CP系列涂層薄膜測量臺階儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀器，其主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。儀器采用了線性可變差動電容傳感...

CP系列國產高精度臺階儀品牌能夠測量納米到330μm甚至1000μm的臺階高度，可以準確測量蝕刻、濺射、SIMS、沉積、旋涂、CMP等工藝期間沉積或去除的材料。

SuperViewW白光干涉儀測量粗糙度設備以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸...

中圖儀器SuperViewW1白光干涉膜厚儀基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數和尺寸。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率...

VT6000高分辨率共聚焦激光顯微鏡可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測，對大坡度的產品有更好的成像效果，在滿足精度的情況下使用場景更具有兼容性。

中圖儀器SuperViewW1國產白光干涉輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面...

中圖儀器VT6000系列激光共聚焦光學顯微鏡是一款用于對各種精密器件及材料表面進行微納米級測量的檢測儀器。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及...

CP200國產臺階膜厚儀主要用于臺階高、膜層厚度、表面粗糙度等微觀形貌參數的測量。其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電...

中圖儀器CP200臺階儀接觸式表面形貌測量儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力。它可以對微米和納米結構進行...

SuperViewW1白光干涉輪廓儀以白光干涉技術為原理，在半導體、精密加工及微納材料等領域，測光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、...

白光干涉儀三維輪廓儀利用光學干涉原理，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點。

CP系列臺階厚度儀是一款超精密接觸式微觀輪廓測量儀，其采用LVDC電容傳感器，具有的亞埃級分辨率和超微測力等特點使得其在ITO導電薄膜厚度的測量上具有很強的優勢...

SuperViewW1高穩定白光干涉儀應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。廣泛應用于如納米材料、航空航天、半...

白光干涉三維形貌儀具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點，測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式，...

中圖儀器VT6000系列激光共聚焦顯微鏡配備了真彩相機并提供還原的3D真彩圖像，對細節的展現纖毫畢現。儀器采用自研的電動鼻輪塔臺，并對軟件防撞設置與硬件傳感器防...

中圖儀器白光干涉儀以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描測量，對產品進行高品質監控時不需要取下產品或停止生產，而...