MERCOID DRW 7043-153L
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請注意，這些計算出來的值與低頻下 (<500Hz) 測得的THD+N密切對應。在這里，測量值幾乎*由運算放大器的噪聲決定。由于輸入信號的頻率不影響噪聲電壓，噪聲優勢頻率上的THD+N測量值在是扁平的。
相似的，在低信號幅值上，THD+N測量值主要受噪聲影響。圖2顯示1kHz時，在OPA316上測得的THD+N與輸出幅值之間的關系。在300mV以下時，兩個輸出曲線具有一個恒定斜率。RMS噪聲是恒定的，而與輸入信號幅值無關，所以信號幅值的增加會改進THD+N的測量值。例如，在曲線的噪聲主導區域，把輸出幅值加倍將使THD+N的值減半。
圖2：多個配置中，OPA316運行在1kHz時，THD+N與輸出幅值之間的關系
另一方面，失真諧波的幅值會隨著信號幅值的變化而變化。一旦曲線偏離恒定向下斜坡，我們就會知道失真諧波正在影響THD+N測量值。
針對低噪聲的電路設計具有噪聲不斷增加帶來的有害后果。具有低值反饋電阻器的非反向運算放大器可以提供特別低的噪聲，但是額外的負載和共模電壓會增加高頻失真。了解噪聲或失真是否會限制你的系統性能對于找到一個工程設計解決方案十分關鍵。掌握某些基本手算結果，并且能夠看懂數據表THD+N圖，你就可以迅速確定誰是罪魁禍首了。
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